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晶圆微观缺陷检测


我们的设备能力是基于快速和高精度而设计,领先的检测能力满足于半导体市场最严谨苛刻的应用,包括CMOS图像传感器、存储器件、逻辑芯片、模拟芯片、MEMS、射频、功率器件、汽车电子、BumpingWLCSPFOWLP等。


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