
产品

Eagleᵀ-i Plus
领先的2D检测能力
· 算法提供的亚微米缺陷检测
· 可导入CAD设计图,基于图纸检测
· 多层RDL应用的清晰视觉光源
· 切割后晶片的内部裂纹检查(ICI)
· 背光照明技术
*********的平台
· 定制光学器件
· 高强度LED照明
· 显著提高了产量
突出点
· 检测灵敏度Bright Field-0.42μm;Dard Field-0.3μm
· 多重放大,优化灵敏度
· 可用分区域的检测算法,以优化灵敏度
· 可导入CAD设计图,基于图纸检测
· 能够在一个检测周期内使用不同的聚焦、放大倍率、光源、灵敏度和检测引擎运行连续扫描
· 设备互匹配-从设备到设备的简单配方传输