表面量测设备主要用于生产、研发和质量控制。基于多探头的设计和架构,表面量测设备可广泛应用于晶圆和非晶圆领域。
标准的全自动晶圆量测设备将全球业内广泛认可的 300 mm 量测站点的功能与包含晶圆搬运系统的设备前端模块(EFEM)结合在一起。
带物料搬运单元(MHU)(全自动搬运,手动晶圆载具放置)的量测设备是专为半导体、MEMS、蓝宝石和LED行业开发的。
高精度光学表面量测设备用于快速、高效、无损地测量各种功能性、技术性表面特征指标。由 FRT Metrology 开发的多探头技术为此类测量提供了******的灵活性。
多探头概念与自研软件相结合
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