Camtek 3D量测里的白光干涉测量技术（CLIP）

Camtek的白光干涉测量仪支持快速采样、高精度和亚微米级高度与深度测量。CLIP可轻松快速完成微凸块、RDL、激光切割沟槽、硅通孔（TSV）、接触焊盘、金凸块、探针痕以及芯片上的任何其他三维元素进行量测。