基于CAD图形的检测

Camtek已经开发出一种独特的软件解决方案，通过使用CAD设计文件作为参考来简化工作设置。

该方法学的CAD食谱流程能够导入用于芯片、掩膜、晶圆和面板级别的CAD文件（例如GDSII格式），并将其用作理想的晶圆设计。

使用CAD设计文件作为参考，对于具有微小物体和特征的晶圆设计尤为重要，通过封装图纸中特征最准确的区域，可以实现晶圆特征上的完美区域叠加。