MEMS

灵活通用平台,全面支持各类MEMS应用

微机电系统市场正处于快速发展和变革之中,主要驱动力来自智能手机等消费电子中传感器用量的持续增长,以及汽车行业的持续技术创新。使用传感器的互联设备涵盖汽车、可穿戴技术、智能家居产品等诸多领域。

光学MEMS检测面临双重挑战:其一,器件的多层结构和多个关键区域均需实现高速精准检测;其二,针对含敏感结构(如薄膜)的晶圆需采用特殊载片方案。此外,检测系统还需具备处理和评估多种类型与尺寸(最大8英寸)晶圆的能力。

Camtek为MEMS领域提供的检测与量测解决方案,融合多种先进技术,全面应对MEMS行业在2D与3D层面面临的各种挑战。

我们独特而灵活的平台,能够支持MEMS行业内的全部应用类型。我们提供多种载片配置与专项开发方案,以适应不同尺寸和类型的晶圆需求。

核心能力

  • 晶圆100%全检与2D量测
  • 表面相关缺陷检测
  • 多样化载片解决方案
  • 高分辨率2D与3D测量
  • 多照明配置,适应各类特征检测
  • 灵活的检测环境,支持定制化应用

核心技术

  • 用于缺陷检测与量测的先进检测引擎
  • 高分辨率3D共聚焦传感器与白光干涉仪
  • 高亮度LED背光照明技术,能够检测明场/暗场照明无法发现的缺陷

产品

Eagle G5

专为实现无与伦比的扫描速度和生产效率而设计

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Eagleᵀ-i

高效精准缺陷检测

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Eagleᵀ-i Plus

卓越缺陷检测性能

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MicroProf® 200

通用型独立式量测工作站

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MicroProf® 300

高效能的量测机台,适用于质量管控、研发及制造各工序

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MicroProf® AP

灵活搭配多传感器的量测机台,适用于先进封装工序

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MicroProf® DI

高精度光学表面检测,专为半导体应用打造

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MicroProf® FS

面向MEMS与晶圆厂的多传感器技术与混合测量方案

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MicroProf® MHU

专为半导体、MEMS与LED行业设计的双手臂式机器人物料传输系统

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MicroProf® TL

配备可编程温控的光学量测系统

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