产品

MicroProf® 300

FRT MicroProf® 300 属于高性能且多用途的 MicroProf 系列,并配备了成熟的 SurfaceSens 技术。该设备特别适用于质量保证、研发和生产环节,能够在不接触、不损坏样品的情况下,精准测定理想表面形貌的微小偏差,测量精度可达亚微米级。除了样品表面的粗糙度,表面形貌也是最关键的参数之一,必须精确检测其微小的公差范围。
MicroProf 300 完全满足这些需求,并且可以集成到全自动化生产线中。该系统支持丰富的传感器选择,并可实现双面样品检测(TTV),用户能够随时根据测量需求灵活配置。与此同时,简便的自动化量测流程大幅提升了生产效率和过程稳定性。

产品亮点

  • 支持全套多探头配置
  • 内置摄像头与可扩展照明装置
  • 配备TFT显示器的控制与测量电脑
  • 配备高精度轴的电动传感器定位系统
  • 垂直拼接功能,扩展高度测量范围
  • 高速XY精密定位平台,具备卓越的运动与定位精度
  • 稳固的花岗岩基座,具备优异的减振性能
  • 搭载 FRT Acquire 软件,操作简便高效
  • 借助 FRTs Acquire Automation XT 软件实现全自动 2D/3D 测量
  • 配套便捷易操作的FRT Mark III 分析软件,符合 DIN-ISO 与 SEMI 标准,提供多样化的分析与显示功能

产品

MicroProf® PT

面向先进封装半导体中的面板级量测与检测

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MicroProf® MHU

专为半导体、MEMS与LED行业设计的双手臂式机器人物料传输系统

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MicroProf® FS

面向MEMS与晶圆厂的多传感器技术与混合测量方案

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MicroProf® FE

全自动前端制程量测系统

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MicroProf® DI

高精度光学表面检测,专为半导体应用打造

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MicroProf® 300

高效能的量测机台,适用于质量管控、研发及制造各工序

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MicroProf® AP

同一平台兼具2D与3D量测与检测能力

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MicroProf® 200

通用型独立式量测工作站

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