凭借在先进封装市场多年的经验以及与全球领先制造商的紧密合作，Camtek的集成式2D/3D检测量测平台，已成为抽样与大规模量产环境下的行业标杆。
2D与3D量测系统的行业标准，专为大规模量产打造.半导体行业正朝着铜柱数量增多、节距缩小的方向发展，以实
工艺波动、更小的尺寸以及多层再布线层，使得检测与量测面临严峻挑战。
Camtek的技术提供了专属的检测与量测能力，能够有效应对高难度的扇出工艺，特别是使我们的系统能够检测线宽/线距低至2微米的RDL结构。
Camtek灵活的检测与量测系统，集成了多种前沿技术，以应对3D集成电路开发与生产中的复杂需求。
Camtek是CMOS图像传感器检测系统的领先提供商，在全球范围内已有数百套系统投入运行，为顶尖的CMOS图像传感器制造商提供支持。
Camtek凭借高端光学系统与多通道照明技术，能够以高分辨率检测微小缺陷，为功率半导体制造业提供有力支持。
面对多样化的缺陷类型，检测系统需在保持高吞吐量的同时，实现检测能力优化、快速筛查与精准分类，以满足大规模量产环境的要求。
化合物半导体制造工艺是独特的，需要专用的检测和计量解决方案。 Camtek 的产品包括外延层、外延层内部裂纹、表面形貌、弓形测量、数据分析等检查。
Camtek提供专用的检测解决方案，以支持新兴的射频制造市场，实现高通量的大规模制造。
无图案晶圆的检测挑战众多，包括准确的缺陷位置报告、晶圆翘曲监控、3D 缺陷识别、浅层缺陷检测、晶圆表面质量监控和全自动数据收集。
Camtek为晶圆切割相关工艺提供专用的检测与量测解决方案，确保最终产品的可靠性。
我们的探针测试后检测方案是通用表面检测产品线的重要组成部分，专为支持大规模量产环境而设计。
Camtek为MEMS领域提供的检测与量测解决方案，融合多种先进技术，全面应对MEMS行业在2D与3D层面面临的各种挑战。
Camtek提供专用的检测与量测解决方案，以满足LED制造工艺的特殊要求。
