硅片与化合物半导体晶圆

硅片与化合物半导体晶圆
化合物半导体正在经历一场大规模的扩张,旨在满足众多新的应用需求,并采用诸如碳化硅(SiC)、氮化镓(GaN)、砷化镓(GaAs)等多种材料,以提升功率器件、面部识别等多个领域新器件的性能。
化合物半导体的制造工艺独特,需要专门的检测与测量解决方案。Camtek 的产品方案包括外延层检测、外延层内部隐裂检测、表面形貌测量、弯曲度(Bow)测量、滑移线检测、数据分析等。
核心能力
- 使用高分辨率镜头对小缺陷检测
- 透明晶圆检测
- 量测功能,包括晶圆弯曲度测量、表面形貌测量
- 外延衬底检测
- 采用边缘保持和边界检测的先进计算方法
- 数据分析
- 良率预测


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